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          • x-熒光光譜儀
            x-熒光光譜儀

            波長(cháng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀能夠提供元素的定性和定量分析結果。通過(guò)比較樣品熒光信號與已知標準樣品的對比,可以確定樣品中存在的元素及其相對含量。這種技術(shù)在材料分析、環(huán)境監測、地質(zhì)學(xué)、考古學(xué)和金屬檢測等領(lǐng)域得到廣泛應用。

            更新時(shí)間:2023-10-06型號:訪(fǎng)問(wèn)量:1304
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          • x射線(xiàn)熒光光譜儀~
            x射線(xiàn)熒光光譜儀~

            波長(cháng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀是一種用于分析材料中元素組成的儀器。它基于X射線(xiàn)的特性,通過(guò)激發(fā)樣品產(chǎn)生熒光,并測量不同元素所發(fā)射的特定波長(cháng)的熒光信號來(lái)鑒定和定量樣品中的元素。

            更新時(shí)間:2023-10-06型號:訪(fǎng)問(wèn)量:1291
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          • 波長(cháng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀
            波長(cháng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀

            波長(cháng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀是一種用于分析物質(zhì)成分的儀器。它利用X射線(xiàn)的特性來(lái)測量樣品中的元素含量。

            更新時(shí)間:2023-10-07型號:ZSX Primus訪(fǎng)問(wèn)量:755
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          • 日本理學(xué)波長(cháng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀
            日本理學(xué)波長(cháng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀

            日本理學(xué)波長(cháng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀是一種用于分析物質(zhì)組成的儀器。它的原理基于X射線(xiàn)的特性和樣品中元素的能級結構。

            更新時(shí)間:2023-10-13型號:ZSX Primus IV訪(fǎng)問(wèn)量:3524
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          • 日本理學(xué)波長(cháng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀
            日本理學(xué)波長(cháng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀

            波長(cháng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀是一種科學(xué)儀器,用于分析物質(zhì)中的化學(xué)元素。它基于X射線(xiàn)熒光原理,通過(guò)照射樣品并測量由樣品發(fā)出的特定波長(cháng)的熒光輻射來(lái)確定樣品中存在的元素及其相對含量。

            更新時(shí)間:2023-10-06型號:Supermini 200訪(fǎng)問(wèn)量:2556
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          • 日本理學(xué)波長(cháng)色散型X射線(xiàn)熒光光譜儀
            日本理學(xué)波長(cháng)色散型X射線(xiàn)熒光光譜儀

            日本理學(xué)波長(cháng)色散型X射線(xiàn)熒光光譜儀ZSX Primus具有良好的性能和靈活性,能夠分析最復雜的樣品,它具有30微米的管子,這是業(yè)內較薄的終端窗口管,用于檢測極低的光譜元素(低Z)。結合zui先jin的測試包檢測均勻性和包涵體,ZSX Primus可輕松對樣品進(jìn)行詳細調查,以提供其他分析方法不易獲得的分析見(jiàn)解??捎玫亩帱c(diǎn)分析還有助于消除不均勻材料中的采樣誤差。

            更新時(shí)間:2023-10-06型號:ZSX Primus訪(fǎng)問(wèn)量:2581
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          • 日本理學(xué)波長(cháng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀
            日本理學(xué)波長(cháng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀

            波長(cháng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀在材料科學(xué)、地質(zhì)學(xué)、環(huán)境監測、金屬分析等領(lǐng)域得到廣泛應用。它提供了一種快速、準確、無(wú)損的方法來(lái)確定樣品中各種元素的含量,幫助科學(xué)家和工程師進(jìn)行研究和質(zhì)量控制。

            更新時(shí)間:2023-10-07型號:ZSX Primus III+訪(fǎng)問(wèn)量:2657
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          • 波長(cháng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀
            波長(cháng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀

            波長(cháng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀WDA-3650用于薄膜評估的X射線(xiàn)熒光分析儀同時(shí)對各種薄膜的薄膜厚度和成分進(jìn)行無(wú)損、非接觸式分析。這是一種波長(cháng)色散X熒光光譜儀(WD-XRF),可以以非破壞性和非接觸方式同時(shí)分析尺寸達~200mm的晶圓上各種薄膜的厚度和組成。

            更新時(shí)間:2024-04-09型號:WDA 3650訪(fǎng)問(wèn)量:775
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